Портативный рентгенофлуоресцентный анализатор металлов и сплавов, почв, руд и т.п.

SciAps X сверхнадежный затвор

Непробиваемый стальной затвор открывается только на время анализа

Портативный спектрометр стандартно откалиброван на 37 элементов, включая все возможные элементы-спутники, кроме редкоземельных (REE). Серия X имеет один из 3 анодов на трубке: Au, Ag или Rh, в зависимости от применения. Наиболее частый выбор — Au-анод поскольку он оптимален для большинства элементов-спутников, в т.ч. критически важных спутников золота для рудных тел с высокими/низкими сульфикационными эпитермалями, орогенными, карлиновыми, порфировыми Cu-Au, оксидами железа Cu-Au и др.

Анод Rh охватывает широкий диапазон переходных и тяжелых металлов и оптимален для легких элементов: Mg, Al, Si, Р и S.

Пользователь может самостоятельно добавить или заменить нужные ему элементы, с помощью нашего ПО для Windows-ПК, включенного в комплект поставки. По вашему желанию, дополнительные элементы могут быть установлены на заводе-изготовителе.

• Легкие элементы:

  Mg, Al, Si, R, S, К, Са

• Переходные металлы / элементы-спутники:

  Т, V, Сг, Mn, Fe, Со, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Те, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba

• Тяжелые металлы:

  Та, W, Au, Hg, Ti, Pb, Bi, U

Рентгенофлуоресцентных анализатор SciAps X анализирует все типы сплавов. Заводская калибровка включает более 30 элементов. В любое время вы можете самостоятельно добавить новые элементы, используя метод фундаментальных параметров (программа ФП), или с помощью эмпирических калибровок, в зависимости от того, что более предпочтительно для аналитической задачи. Вам более никогда не придется отправлять анализатор на завод изготовитель или в сервисный центр для дополнительных калибровок. Аналогичным способом можно настраивать работу лазерного анализатора SciAps Laser Z.

SciAps X портативный XRF (РФА) анализатор металлов на базе рентгеновской трубки для экспресс-анализа химического состава и идентификации марок сплавов. Оснащен миниатюрной, упрочненной рентгеновской трубкой новейшей технологии (напряжение 40 или 50 кэВ, ток до 200 мкА, Rh или Au-анод) и высокоскоростным кремниевым дрейфовым детектором (площадью 20 мм² SDD, с разрешением 135 эВ на 5.95 Мп К-альфа линии, 250 тыс. импульсов в секунду реального времени).

Приложение «Сплавы» обеспечит полный химический анализ сплава и определение марки, с возможностью определения всех элементов, перечисленных ниже, для сплавов на любой основе.

Для моделей X-200, X-300 элементы:

Mg, Al, Si, Р, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Со, Ni, Си, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Та, Hf, Re

Для моделей X-50, X-100 элементы:

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Та, Hf, Re

В комплект поставки входит программа для Windows-ПК, для импорта/экспорта результатов и обработки данных. Также предлагается программа для качественного анализа «Элемент Про», которая обеспечит мгновенное определение наличия любых элементов в пробе.

SciAps X имеет лучшее, по сравнению с аналогичными рентгенофлуоресцентными спектрометрами, соотношение параметров «точность—скорость—вес».

SciAps X обладает удобной и практичной конструкцией с надежной защитой детектора. Удобное программное обеспечение на Android, которое обеспечивает высокую скорость проведения тестов. Все это делает SciAps X лучшим решением для входного контроля, сортировки, идентификации марок сплавов.

Х-300	Х-200 / X-250	Х-100	Х-50
Высокая скорость работы, точность и воспроизводимость для всех типов сплавов — жаропрочные, нержавеющие стали, медь, алюминий и пр. Измеряет легкие элементы (Mg > 0,7% в алюминиевой матрице). Al, Si, S и P с применением фирменной методики измерения. Измеряет 0,4% Mg в сплавах 6063, 356, 3004 с применением фирменной методики измерения.	Высокая скорость работы, точность и воспроизводимость для жаропрочных сплавов, нержавеющих сталей, меди, алюминия и пр. Анализатор X-200 имеет два луча.Настройки второго луча по принципу выдержки на фотоаппарате: 5-6 сек. достаточно для измерения Al, Si, S и P 8-10 сек. измеряет концентрацию Mg от 0,8% в основе Al 15-20 сек. достаточно для измерения Mg от 0,3-0,5% в таких марках сплавов как 6063, 356 или 3004 Модель X-250 - специализированная модификация для анализа алюминия.	Предназначен для анализа элементов от титана и выше. Анализ нержавеющих сталей и цветных сплавов со скоростью и точностью, сопоставимой с приборами-конкурентами в средней ценовой категории. Не имеет режима двойного луча, не анализирует элементы Mg, Si, Al, P и S. Работает на кремниевом дрейфовом детекторе (SDD). Альтернатива анализатору с PIN-детектором.	Самая экономичная модель. Огромные возможности для анализа цветных, редкоземельных и тяжелых металлов. Предназначен для рутинной сортировки нержавеющих сталей и цветных сплавов. Способен на сортировку Al-сплавов по легирующим элементам от Ti и выше.
Трубка
40kV / 50 kV, анод Rh или Au (зависит от приложения)	6-40kV, 200uA , анод Rh (сплав) или 6-50kV, 200uA анод Au (геохимия, почва, другие).	6-40kV, 200uA Rh40 кВ, анод Rh (сплав) или анод 40 кВ Au (геохимия, почвы и др.).	40 кВ, анод Rh (сплав) или анод 40 кВ Au (геохем, почва и др.).
Детектор
20 мм2 премиум SDD, FAST DPP 250k cps, разрешение 135eV FWHM по K-alpha Mn 5.95, более 90% измерений в режиме реального времени.	20 мм2 стандарт SDD и DPP 125k cps, разрешение 135eV FWHM по K-alpha Mn 5.95, более 90% измерений в режиме реального времени.	20 мм2 стандарт SDD и DPP. 125k cps, более 90% измерений в режиме реального времени.	7 мм2 Si-PIN, стандартный DPP, 15k cps, более 50% измерений в режиме реального времени.