При определении химического состава металлов и сплавов с использованием атомно-эмиссионных методов анализа для минимизации влияния колебаний температуры в разряде при возбуждении пробы используется внутренние стандарты. В том случае аналитический сигнал представляет собой отношение интенсивностей аналитической линии определяемого элемента и линии сравнения, и пропорционален отношению концентраций.
При использовании описанного приема возникает проблема выбора элемента внутреннего стандарта, так как элементный состав анализируемого образца неизвестен, и подходящего внутреннего стандарта может не быть.
В случае применения атомно-эмиссионных спектрометров, в которых агрегатное состояние исследуемого вещества не изменяется (например, спектральный экспресс-анализ монолитных проб), используется матричный элемент (основа).
Под матричным элементом понимают один элемент, концентрация которого во внутреннем стандарте очень высока.
В сталях и чугунах основой служит железо, в бронзах и латунях — медь и так далее по аналогии.
